Liên hệ
Tiếng Việt
Tiếng Anh
Thứ bảy, 14/12/2024
Positron Profilometry
Cập nhật vào: Thứ năm - 21/11/2024 01:57
Nhan đề chính: Positron Profilometry
Nhan đề dịch: Đo độ Positron
Tác giả: Jerzy Dryzek
Nhà xuất bản: Springer Cham
Năm xuất bản: 2023
Số trang: 149 tr.
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
ISBN: 978-3-031-41093-2
SpringerLink
Lời giới thiệu:
Cuốn sách này cung cấp tổng quan toàn diện về phép đo độ sâu positron, tập trung cụ thể vào phân tích phân bố độ sâu khuyết tật trong vật liệu. Phép đo độ sâu positron đóng vai trò quan trọng trong việc hiểu và mô tả khuyết tật trong nhiều loại vật liệu, bao gồm kim loại, chất bán dẫn, polyme và gốm sứ. Bằng cách phân tích phân bố độ sâu của khuyết tật, các nhà nghiên cứu có thể hiểu sâu hơn về nhiều đặc tính vật liệu khác nhau, chẳng hạn như cấu trúc tinh thể, mật độ khuyết tật và hành vi khuếch tán. Nghiên cứu sâu rộng của tác giả kéo dài trong hai thập kỷ chủ yếu tập trung vào các vùng dưới bề mặt. Các vùng này, nằm bên dưới bề mặt và chịu nhiều quá trình bề mặt khác nhau, đóng vai trò quan trọng trong việc tạo ra phân bố khuyết tật. Ba kỹ thuật thử nghiệm và phân tích dữ liệu của chúng được mô tả chi tiết: chùm positron năng lượng thay đổi (VEP) đôi khi được gọi là chùm positron chậm, một kỹ thuật được gọi là quét độ sâu cấu hình cấy ghép (DSIP) và kỹ thuật khắc tuần tự (SET). Khả năng sử dụng của các kỹ thuật này được minh họa bằng nhiều ví dụ về phép đo của tác giả và những người khác.
Từ khóa: Đo độ Positron; Phân bố; Độ sâu khuyết tật; Phổ hủy diệt; Đặc tính vật liệu; Kỹ thuật.
Nội dung cuốn sách gồm những phần sau:
- Giới thiệu
- Kỹ thuật hủy diệt Positron
- Số phận của Positron năng lượng và nhiệt hóa trong vật chất
- Hồ sơ cấy ghép Positron
- Positron trong Vật chất không đồng nhất
- Chùm Positron năng lượng biến đổi
- Phân tích khuyết tật bằng cách sử dụng nguồn Positron đồng vị
- Kỹ thuật khắc tuần tự
Nhan đề dịch: Đo độ Positron
Tác giả: Jerzy Dryzek
Nhà xuất bản: Springer Cham
Năm xuất bản: 2023
Số trang: 149 tr.
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
ISBN: 978-3-031-41093-2
SpringerLink
Lời giới thiệu:
Cuốn sách này cung cấp tổng quan toàn diện về phép đo độ sâu positron, tập trung cụ thể vào phân tích phân bố độ sâu khuyết tật trong vật liệu. Phép đo độ sâu positron đóng vai trò quan trọng trong việc hiểu và mô tả khuyết tật trong nhiều loại vật liệu, bao gồm kim loại, chất bán dẫn, polyme và gốm sứ. Bằng cách phân tích phân bố độ sâu của khuyết tật, các nhà nghiên cứu có thể hiểu sâu hơn về nhiều đặc tính vật liệu khác nhau, chẳng hạn như cấu trúc tinh thể, mật độ khuyết tật và hành vi khuếch tán. Nghiên cứu sâu rộng của tác giả kéo dài trong hai thập kỷ chủ yếu tập trung vào các vùng dưới bề mặt. Các vùng này, nằm bên dưới bề mặt và chịu nhiều quá trình bề mặt khác nhau, đóng vai trò quan trọng trong việc tạo ra phân bố khuyết tật. Ba kỹ thuật thử nghiệm và phân tích dữ liệu của chúng được mô tả chi tiết: chùm positron năng lượng thay đổi (VEP) đôi khi được gọi là chùm positron chậm, một kỹ thuật được gọi là quét độ sâu cấu hình cấy ghép (DSIP) và kỹ thuật khắc tuần tự (SET). Khả năng sử dụng của các kỹ thuật này được minh họa bằng nhiều ví dụ về phép đo của tác giả và những người khác.
Từ khóa: Đo độ Positron; Phân bố; Độ sâu khuyết tật; Phổ hủy diệt; Đặc tính vật liệu; Kỹ thuật.
Nội dung cuốn sách gồm những phần sau:
- Giới thiệu
- Kỹ thuật hủy diệt Positron
- Số phận của Positron năng lượng và nhiệt hóa trong vật chất
- Hồ sơ cấy ghép Positron
- Positron trong Vật chất không đồng nhất
- Chùm Positron năng lượng biến đổi
- Phân tích khuyết tật bằng cách sử dụng nguồn Positron đồng vị
- Kỹ thuật khắc tuần tự
