Liên hệ
Tiếng Việt
Tiếng Anh
Thứ năm, 13/11/2025
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System- on-Chip
Cập nhật vào: Thứ năm - 03/10/2024 04:11
Nhan đề chính: Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System- on-Chip
Nhan đề dịch: Hỗ trợ học máy để chẩn đoán lỗi hệ thống trên chip
Tác giả: Patrick Girard, Shawn Blanton, Li-C. Wang
Nhà xuất bản: Springer, Cham
Năm xuất bản: 2023
Số trang: 316 tr.
Ngôn ngữ: Tiếng Anh
ISBN: 978-3-031-19639-3
SpringerLink
Lời giới thiệu: Cuốn sách này cung cấp hướng dẫn hiện đại về các kỹ thuật dựa trên Học máy (ML) đã được chứng minh là có hiệu quả cao trong việc chẩn đoán lỗi trong các mạch và hệ thống điện tử. Các phương pháp được thảo luận có thể được sử dụng để chẩn đoán khối lượng sau khi sản xuất hoặc để chẩn đoán hàng trả lại của khách hàng. Người đọc sẽ có thể xử lý lượng lớn dữ liệu thử nghiệm sâu sắc mà không thể khai thác theo cách khác một cách hiệu quả và kịp thời. Sau một số thông tin cơ bản về chẩn đoán lỗi và học máy, các tác giả giải thích và áp dụng các kỹ thuật tối ưu hóa từ miền ML để giải quyết vấn đề chẩn đoán lỗi trong lĩnh vực thiết kế và sản xuất hệ thống điện tử. Các kỹ thuật này có thể được sử dụng để cô lập lỗi trong mạch logic hoặc mạch tương tự, chẩn đoán lỗi ở cấp độ bo mạch hoặc thậm chí là xác định cụm lỗi ở cấp độ wafer. Các số liệu đánh giá cũng như các nghiên cứu điển hình trong ngành được sử dụng để nhấn mạnh tính hữu ích và lợi ích của việc sử dụng các kỹ thuật chẩn đoán dựa trên ML.
Từ khóa: Học máy. Chip. Lỗi hệ thống. Chẩn đoán.
Nội dung cuốn sách gồm những phần sau
Điều kiện tiên quyết về chẩn đoán lỗi
Các phương pháp thông thường để chẩn đoán lỗi
Học máy và ứng dụng của nó trong kiểm tra
Hỗ trợ học máy cho chẩn đoán logic và phân loại lỗi
Học máy trong chẩn đoán mạch logic
Hỗ trợ học máy cho chẩn đoán nhận biết tế bào
Hỗ trợ học máy cho chẩn đoán mạch tương tự
Hỗ trợ học máy cho chẩn đoán lỗi chức năng cấp bo mạch
Hỗ trợ học máy cho phân tích mẫu lỗi cấp wafer
